The erosion of the graphite divertor plates in the ASDEX Upgrade tokamak is measured spectroscopically. Spatial profiles of the D0 and C+ influxes across the outer target plate are determined from measured absolute line intensities. Plasma parameters (ne, Te) at the target, which are required to determine the appropriate photon emission efficiencies for these lines, are obtained from an in-vessel reciprocating Langmuir probe above the target plate. Yields for the erosion of the graphite by the incident D+ flux are determined from the ratio of the measured C+ to D0 fluxes. Over a range of moderate densities the measured yields of ⩽4% are explicable in terms of physical sputtering alone. Chemical sputtering by low energy Franck-Condon neutrals probably contributes, however, to the total erosion. At higher densities detachment of the plasma from the targets occurs owing to formation of a MARFE near the X point. Under these conditions localized physical sputtering of the targets ceases. The impurity level (Zeff) is, however, maintained following detachment, indicating a corresponding maintenance of carbon influx, perhaps due to chemical erosion of the total graphite surface and/or an improvement in particle confinement in the detached state
ASDEX Upgrade トカマクにおけるグラファイトダイバータ板の侵食は、分光学的に測定される。外側ターゲット板全体にわたる D0 および C+ フラックスの空間プロファイルは、測定された絶対輝線強度から決定される。これらの輝線に対する適切な光子放出効率を決定するために必要となる、ターゲットにおけるプラズマパラメータ (ne, Te) は、ターゲット板の上方にある容器内往復動ラングミュアプローブから得られる。入射 D+ フラックスによるグラファイトの侵食収率は、測定された C+ フラックスと D0 フラックスの比から決定される。中程度の密度の範囲では、測定された侵食収率 (⩽4%) は物理スパッタリングのみで説明可能である。しかしながら、低エネルギーのフランク・コンドン中性粒子による化学スパッタリングは、全侵食におそらく寄与する。より高い密度では、X 点付近での MARFE の形成により、プラズマのターゲットからの剥離が発生する。これらの条件下では、ターゲットの局所的な物理スパッタリングは停止する。しかしながら、不純物レベル (Zeff) は剥離後も維持され、これは炭素フラックスの対応する維持を示しており、おそらく全グラファイト表面の化学侵食および/または剥離状態における粒子閉じ込めの改善によるものである。