Design of a collective Thomson scattering system for diagnosing mid-infrared laser-produced plasmas for extreme ultraviolet sourceAvailable to Purchase

本論文は、極端紫外（EUV）光源に使われる中赤外レーザー生成プラズマを調べるための集団トムソン散乱計測システムの設計を扱う。集団トムソン散乱は、プラズマにレーザー光を当てて散乱光を解析し、電子密度や電子温度などの状態を遠隔から推定する手法である。EUV光源ではプラズマ状態の理解が重要であり、本設計はその診断精度向上に役立つ可能性がある。要旨が提供されていないため、具体的な実験結果や性能評価は本文で確認する必要がある。