The mean parallel current density evolution equation is presented using the electromagnetic (EM) gyrokinetic equation. There are two types of intrinsic current driving mechanisms resulting from EM electron temperature gradient (ETG) turbulence. The first type is the divergence of residual turbulent flux including a residual stress-like term and a kinetic stress-like term. The second type is a residual turbulent source, which is driven by the correlation between density and parallel electric field fluctuations. The intrinsic current density driven by the residual turbulent source is negligible as compared to that driven by the residual turbulent flux. The ratio of intrinsic current density driven by EM ETG turbulence to the background bootstrap (BS) current density is estimated. The local intrinsic current density driven by the residual turbulent flux for mesoscale variation of turbulent flux can reach about 80% of the BS current density in the core region of an ITER standard scenario, but there is no net intrinsic current on a global scale. Based on this, the local intrinsic current driven by EM micro-turbulence and its effects on local modification of the profile of the safety factor may need to be carefully taken into account in future devices with high , which is the ratio between electron pressure to magnetic pressure.
平均平行電流密度の発展方程式は、電磁（EM）ジャイロ運動論方程式を用いて提示される。電子温度勾配（ETG）乱流に起因する固有の電流駆動機構には2つのタイプがある。第1のタイプは、残留応力項と運動論的応力項を含む残留乱流フラックスの発散である。第2のタイプは、密度と平行電場の揺らぎ間の相関によって駆動される残留乱流源である。残留乱流源によって駆動される固有電流密度は、残留乱流フラックスによって駆動されるものと比較して無視できる程度である。EM ETG乱流によって駆動される固有電流密度と背景のブートストラップ（BS）電流密度との比が評価される。残留乱流フラックスによって駆動される局所固有電流密度は、ITER標準シナリオのコア領域において、乱流のメソスケール変動に対してBS電流密度の約80%に達し得るが、大域的には正味の固有電流は存在しない。これに基づき、EMマイクロ乱流によって駆動される局所固有電流と、それが安全係数のプロファイルの局所的修正に及ぼす影響は、プラズマ圧力と磁気圧の比である が高い将来の装置において、慎重に考慮される必要があるかもしれない。