One of the possible consequences of disruptions in tokamaks is the generation of runaway electrons which can impact plasma facing components and cause damage, owing to high local energy deposition. This problem becomes more serious as the machine size and plasma current increase. Since large size and high currents are characteristics of proposed future machines, control of runaway generation is an important design consideration. A lumped circuit model for disruption runaway electron generation indicates that impurity concentration and type, as well as plasma motion, can strongly influence runaway behaviour. A comparison of disruption data from several runs on JET and DIII-D with model results demonstrate the effects of impurities, and plasma motion, on runaway number density and energy. The model is also applied to the calculation of runaway currents for ITER
トカマクにおける擾乱の起こり得る結果の一つは、逃走電子の生成であり、これは高い局所エネルギー堆積によりプラズマ対向機器に影響を及ぼし、損傷を引き起こす可能性がある。この問題は、装置規模とプラズマ電流が増大するにつれてより深刻になる。大型で高電流の装置は将来の装置の特徴であるため、逃走電子の生成の制御は重要な設計上の考慮事項である。擾乱時の逃走電子生成に関する集中回路モデルは、不純物濃度とその種類、ならびにプラズマ運動が逃走電子の挙動に強く影響し得ることを示している。JETおよびDIII-Dにおける複数回の擾乱データとモデル結果との比較は、不純物およびプラズマ運動が逃走電子の数密度とエネルギーに及ぼす影響を実証している。このモデルはまた、ITERにおける逃走電子電流の計算にも適用されている。