Experiments with the new neutral beam injection source of TCV have been performed with high fast-ion fractions (>20%) that exhibit a clear reduction of the loop voltage and a clear increase of the plasma pressure in on- and off-axis heating configurations. However, good quantitative agreement between the experimental data and TRANSP predictions is only found when including strong additional fast-ion losses. These losses could in part be caused by turbulence or MHD activity as, e.g. high frequency modes near the frequency of toroidicity induced Alfvén eignmodes are observed. In addition, a newly installed fast-ion D-alpha (FIDA) spectroscopy system measures strong passive radiation and, hence, indicates the presence of high background neutral densities such that charge-exchange losses are substantial. Also the active radiation measured with the FIDA diagnostic, as well as data from a neutral particle analyzer, suggest strong fast-ion losses and large neutral densities. The large neutral densities can be justified since high electron temperatures (3–4 keV), combined with low electron densities (about m−3) yield long mean free paths of the neutrals which are penetrating from the walls.
TCVの新しい中性粒子ビーム入射源を用いた実験は、高い高速イオン割合（>20%）で実施され、オン軸およびオフ軸加熱配位において、ループ電圧の明確な低減とプラズマ圧力の明確な増加を示した。しかしながら、実験データとTRANSP予測との間の良好な定量的一致は、強い追加の高速イオン損失を含めた場合にのみ得られた。これらの損失は、一部は乱流またはMHD活動によって引き起こされる可能性があり、例えば、トロイダル性誘起アルヴェン固有モードの周波数付近の高周波モードが観測される。さらに、新たに設置された高速イオンD-alpha（FIDA）分光システムは、強いパッシブ放射を測定し、したがって、電荷交換損失が substantial であるような高いバックグラウンド中性粒子密度の存在を示す。また、FIDA診断で測定されたアクティブ放射、ならびに中性粒子分析器からのデータも、強い高速イオン損失と大きな中性粒子密度を示唆している。大きな中性粒子密度は、高い電子温度（3–4 keV）と低い電子密度（約 m−3）が組み合わさることで、壁から侵入する中性粒子の平均自由行程が長くなることによって正当化され得る。