The plasma current decay during the initial phase of the current quench in JT-60U disruption has been calculated by a disruption simulation code (DINA) using the measured electron temperature Te profile. In the case of fast plasma current decay, Te has a peaked profile immediately after a thermal quench and the Te profile does not change significantly during the initial phase of the current quench. On the other hand, in the case of a slow plasma current decay, the Te profile is broader immediately after the thermal quench, and the Te profile shrinks. The results of the DINA simulation show that the plasma internal inductance Li increases during the initial phase of the current quench, whereas the plasma external inductance Le does not change over time. If the plasma is represented by a simple electrical circuit, the time derivative of Li functions as a resistance on the plasma current decay. It was confirmed that the increase in Li is caused by current diffusion toward the core plasma due to the decrease in Te in the intermediate and edge regions.
JT-60Uにおけるディスラプションの電流クエンチ初期段階でのプラズマ電流減衰を、測定された電子温度Te分布を用いたディスラプションシミュレーションコード（DINA）によって計算した。プラズマ電流減衰が速い場合、Teは熱クエンチ直後にピーク状の分布を示し、電流クエンチ初期段階ではTe分布はほとんど変化しない。一方、プラズマ電流減衰が遅い場合、Teは熱クエンチ直後によりブロードな分布を示し、Te分布は縮小する。DINAシミュレーションの結果は、プラズマ内部インダクタンスLiが電流クエンチ初期段階で増加する一方、プラズマ外部インダクタンスLeは時間とともに変化しないことを示している。プラズマを単純な電気回路で表すと、Liの時間微分は電流減衰に対する抵抗として機能する。Liの増加は、中間領域および周辺領域でのTeの低下による、コアプラズマへの電流拡散によって引き起こされることが確認された。