Neutral beam ion loss from the Compact Helical System (CHS) has been measured with a scintillator-type probe. The total loss to the probe as well as the pitch angle and gyroradius distributions of that loss have been measured as various plasma parameters were scanned. Three classes of beam ion losses were observed at the probe position: passing ions with pitch angles within 10° of those of transition orbits, ions on transition orbits (as would be expected from these orbits, which have large deviations from their starting flux surfaces) and ions on trapped orbits, typically 15° or more from transition orbits. Some orbit calculations in this magnetic geometry have been performed in order to understand the characteristics of the loss. Simulation of the detector signal based upon the following of orbits from realistic beam deposition profiles is not able to reproduce the pitch angle distribution of the losses measured. Consequently it is conjectured that internal plasma processes induce their loss.
コンパクトヘリカルシステム（CHS）における中性粒子ビームイオンの損失を、シンチレーター型プローブを用いて測定した。プローブへの全損失量、ならびにその損失のピッチ角分布とジャイロ半径分布を、様々なプラズマパラメータを走査しながら測定した。プローブ位置において、ビームイオンの損失は3つのクラスに分類された：遷移軌道のピッチ角から10°以内のピッチ角を持つ通過イオン、遷移軌道上のイオン（これらの軌道は、初期磁気面から大きな偏差を持つことから予想される通りである）、および遷移軌道から典型的に15°以上離れた捕捉軌道上のイオンである。この磁場配位におけるいくつかの軌道計算を、損失の特性を理解するために実施した。現実的なビーム堆積プロファイルからの軌道追跡に基づく検出器信号のシミュレーションは、測定された損失のピッチ角分布を再現することができなかった。したがって、内部プラズマ過程がそれらの損失を誘起していると推測される。