Evidence from injection into the TCV device of laser ablated, non-recycling silicon impurities shows that the transport of impurities confinement can be remarkably different from that of energy. The ratio of impurity to energy confinement times ranges from near unity in Ohmic discharges to 5 in the presence of high power ECCD. In Ohmic discharges in deuterium, above a threshold of density and of safety factor near q95 = 4.5, the impurity confinement time increases abruptly by a factor of 2 and is sometimes accompanied by indefinite retention of non-recycling impurities within the sawtooth mixing radius.
TCV装置へのレーザーアブレーションによる非再循環シリコン不純物注入の証拠は、不純物閉じ込めがエネルギー閉じ込めと著しく異なる可能性があることを示している。不純物閉じ込め時間とエネルギー閉じ込め時間の比は、オーミック放電におけるほぼ1から、高パワーECCD存在下での5までの範囲に及ぶ。重水素オーミック放電において、密度と安全係数がそれぞれ閾値（q95 ≈ 4.5付近）を超えると、不純物閉じ込め時間は突然2倍に増加し、時として鋸歯状混合半径内での非再循環不純物の無期限保持を伴う。