The details of the bulk transport in DIII-D across the L-H transition have been studied with a time dependent transport analysis of a series of repeat discharges. Time dependent profiles of ne, Te, Ti, Zeff, Vϕ and Prad were obtained for these discharges. The confinement properties were observed to improve in the plasma bulk after the transition. The dominant improvement is in the electron channel. The electron diffusivity profile flattens and drops to values comparable to those of the ion diffusivity. The changes in the ion diffusivity are within the error bars, thus preventing any definite conclusions, but after the transition the data show a consistent drop in the values. The drop in the electron diffusivity does not occur abruptly at the time of the transition; rather, the improvement starts within 30 ms after the transition and the improvement continues until at least 80 ms after the transition. The nature of changes in the electron density is similar to that of changes in the diffusivities, suggesting that the density gradient length is a critical quantity in the L-H transition. Experimental data are compared with a model for the ion temperature gradient (ITG) mode. Stabilization of the ITG mode does not seem to take place in the L-H transition, but the plasma might be marginally stable against the ITG mode in both the L-mode and the H-mode
DIII-Dにおけるバルク輸送の詳細は、一連の繰り返し放電の時間依存輸送解析を用いて、L-H遷移にわたって研究された。これらの放電について、ne、Te、Zi、Vφ、Pradの時間依存プロファイルが得られた。閉じ込めの改善は、遷移後にプラズマバルクで観測された。支配的な改善は電子チャネルにおいて見られる。電子拡散係数のプロファイルは平坦化し、イオン拡散係数と同程度の値まで低下する。イオン拡散係数の変化は誤差範囲内であり、明確な結論は導けないが、遷移後にはデータは一貫した低下を示す。電子拡散係数の低下は遷移時に急激に起こるのではなく、改善は遷移後30ms以内に始まり、少なくとも遷移後80msまで継続する。電子密度の変化の性質は拡散係数の変化と類似しており、密度勾配長がL-H遷移における重要な量であることを示唆している。実験データは、イオン温度勾配(ITG)モードのモデルと比較された。ITGモードの安定化はL-H遷移では生じていないように見えるが、プラズマはLモードとHモードの両方においてITGモードに対して限界的に安定である可能性がある。