Empirical scaling relations for the electron heat diffusivity χe, the diffusion coefficient D and the inward drift velocity vin in the Ohmic, L- and H-regimes of ASDEX are checked against anomalous transport predicted for electrostatic or magnetic fluctuations. It is stressed that χe and D exhibit the same dependence on the fluctuation spectrum, which explains the coupling of these diffusivities observed in all confinement regimes. The ratios χe/D ≈ 3.3 andare shown to be general results of quasi-linear fluctuation induced transport and to agree with the empirical coefficients in the Ohmic, L- and H-regimes. Also discussed are the consequences of χe ∝ D for the interpretation of the saturated and improved Ohmic confinement, and of vin ∝ D for the density profile shape.
要約： ASDEXのオーミック、L-およびH-モードにおける電子熱拡散係数χe、拡散係数D、および内向きドリフト速度vinに対する経験的スケーリング則を、静電的または磁気的ゆらぎに対して予測される異常輸送と比較検討する。χeとDがゆらぎスペクトルに対して同じ依存性を示すことが強調され、これは全観測モードにおいてこれらの拡散係数の結合を説明するものである。χe/D ≈ 3.3という比は、準線形ゆらぎ誘起輸送の一般的な結果であり、オーミック、L-およびH-モードにおける経験的係数と一致することが示される。さらに、χe ∝ Dの帰結として、飽和オーミック閉じ込めおよび改善オーミック閉じ込めの解釈、ならびにvin ∝ Dに基づく密度分布形状の解釈についても議論する。