The traditional and widely used reflectometric schemes are not able to probe the edge density layers of the reversed field pinches (RFPs) due to the presence of a high level of density fluctuations. In order to overcome this limitation, an ultrafast microwave reflectometer has been developed and the first Ka-band has been successfully operational on the RFX-mod experiment [1] since mid-2009. The actual diagnostics configuration (frequency sweep 26.5–30.5 GHz in 1 µs) allows us to evaluate the radial distance of the relative cut-off density layer with a high time resolution. The first results are presented and discussed in this paper. In particular, a relation between edge density and local magnetic topology is proposed as well as a systematic study of the average behaviour over several global operative conditions of the machine. An outlook on the future diagnostic developments is also given.
従来から広く用いられている反射計スキームは、高レベルの密度揺動が存在するため、反転磁場配位（RFPs）の周辺密度層を探査することができない。この制限を克服するために、超高速マイクロ波反射計が開発され、2009年半ばからRFX-mod実験[1]において最初のKaバンドが首尾よく運用されている。現在の計測構成（1 µsでの周波数掃引26.5〜30.5 GHz）により、高時間分解能で相対的な遮断密度層の半径方向距離を評価することができる。本論文では、最初の結果を示し、考察する。特に、周辺密度と局所的な磁気トポロジーとの関係を提案するとともに、装置のいくつかの全体動作条件にわたる平均的な挙動の系統的研究を行う。また、今後の計測開発に関する見通しも示す。