AbstractA broad band frequency modulation reflectometer system has been installed and operated on the GAMMA 10 tandem mirror. A fast sweep hyperabrupt varactor-tuned oscillator (HTO) is used as a source, which can be swept over the full frequency band (12–18 GHz) in less than 5 μs. The high frequency fringes due to the change in the cut-off layer can be distinguished from those due to the existence of density fluctuations, since the fluctuation level with frequency components larger than the ion cyclotron range of frequency (10 MHz) is much smaller than the average density (10−4 or less). The reliability of density profile measurement is investigated for various sweep times of HTO from 5 μs to 5 ms. It is observed that the reliability is greatly improved and the reconstructed density profiles agree well with that obtained from an interferometer when the sweep time is faster than 10 μs. The present reflectometer is routinely applied to determine the density profiles of the central cell plasma in GAMMA 10.
GAMMA 10タンデムミラーに、広帯域周波数変調反射計システムが設置され、運用されている。高速ハイパーアブラプトバラクタ同調発振器（HTO）が信号源として使用されており、5 μs未満で全周波数帯域（12–18 GHz）を掃引できる。遮断層の変化による高周波フリンジは、密度揺動の存在によるものと区別できる。なぜなら、イオンサイクロトロン周波数範囲（10 MHz）より大きい周波数成分を持つ揺動レベルは、平均密度（10−4以下）よりもはるかに小さいからである。密度プロファイル測定の信頼性は、HTOの掃引時間を5 μsから5 msまで様々に変えて調査された。掃引時間が10 μsより速い場合、信頼性が大幅に向上し、再構成された密度プロファイルが干渉計から得られたものとよく一致することが観測された。本反射計は、GAMMA 10の中央セルプラズマの密度プロファイルを決定するために日常的に適用されている。