The stepped fixed frequency X-mode reflectometer operating between 105 and 155 GHz first designed for density fluctuation measurement has been upgraded to also measure the density profile. It runs now with two sources in parallel: a fast swept source and a frequency synthesizer to measure during the same shot the density profile and density fluctuations. The accuracy of the density profile from reflectometry reduces uncertainties on fluctuation profile measurement. This double operating mode also offers two ways to probe MHD modes and the micro-turbulence.
105〜155 GHzで動作する、密度揺動測定用に最初に設計されたステップ固定周波数Xモード反射計は、密度分布も測定できるようにアップグレードされた。現在は2つの源を並行して使用して動作する：高速掃引源と周波数シンセサイザーであり、同一ショット中に密度分布と密度揺動を測定する。反射測定による密度分布の精度は、揺動分布測定の不確かさを低減する。この二重動作モードはまた、MHDモードと微視的乱流を探査する2つの方法を提供する。