A multichannel microwave reflectometer system is used to measure the electron density profile at JET. A new measurement technique is described which gives continuous information on the electron profile in time. Profile measurements using swept-frequency measurements are combined with accurate measurements of the evolution of the density using fixed-frequency operation. The analysis of the data can be carried out routinely for each discharge at JET. The method includes estimates for the uncertainties on the measurements, corrections for finite sweep on the data and relativistic effects. The results compare well with other measurements of the electron density in JET.
多チャンネルマイクロ波反射計システムを用いて、JETにおける電子密度分布を測定する。新たな測定手法について述べる。この手法により、電子密度分布の時間変化に関する連続的な情報が得られる。周波数掃引測定による分布測定と、固定周波数動作による密度時間発展の高精度測定を組み合わせる。データ解析は、JETにおける各放電について定常的に実施可能である。本手法には、測定値の不確かさの評価、データに対する周波数掃引の有限性の補正、および相対論的効果の補正が含まれる。得られた結果は、JETにおける他の電子密度測定結果と良好な一致を示す。