Deterioration of neutron yield in a low-energy plasma focus operated by a single 32 mu F, 15 V, (3.6 kJ) capacitor is observed. When the cumulative discharge energy over successive shots across an insulator sleeve approaches 1.6 MJ, the neutron yield from the device starts deteriorating. The insulator sleeve, when examined, is found to have a approximately 3 mu m thick layer of copper deposit. The contaminated sleeve surface appears rough with a grain-type structure. It is therefore concluded that the degradation of neutron yield in the low-energy device occurs due to Cu deposit on the insulator sleeve surface. The situation may improve if low-sputtering-rate conductors are employed for the electrodes of the device.
低エネルギー・プラズマフォーカス装置において、単一の32μF、15V（3.6kJ）コンデンサによって駆動される場合の中性子収量の劣化が観察された。絶縁体スリーブを横切る累積放電エネルギーが1.6MJに近づくと、装置からの中性子収量は劣化し始める。絶縁体スリーブを検査したところ、約3μmの厚さの銅堆積層が存在することが判明した。汚染されたスリーブ表面は、粒状構造を伴う粗い外観を示す。したがって、低エネルギー装置における中性子収量の劣化は、絶縁体スリーブ表面への銅堆積に起因すると結論づけられる。装置の電極に低スパッタリング率の導体を採用すれば、この状況は改善される可能性がある。