High temporal (⩾10 µs) and spatial (⩾4 mm) resolution electron density profiles can now be automatically obtained on a between-shot basis from profile reflectometry data on the DIII-D tokamak. Fast, automated analysis is made possible by a new between-shot analysis package, details of which are presented. Analysis of X-mode data covering ∼0–3 × 1019 m−3 with 1 ms duration data bursts every 5 ms for 5–6 s, for a total of ∼1000 profiles, takes 4–5 min, allowing the profiles to be viewed and used between shots. Additional details are provided of how the system density coverage at the above temporal and spatial resolution was recently expanded to (0–6.4) × 1019 m−3 using a novel simultaneous, dual-polarization (O- and X- mode) measurement technique. Automatic (but not between-shot) analysis for the complete O- and X-mode data set (1.5 GB for each discharge, about 100 000 profiles at 25 µs temporal resolution) is available after the experiment. The improved capabilities of the system are illustrated using new results from a variety of areas such as edge localized mode dynamics, L–H transition and pedestal physics, impurity deposition and ITB studies, and direct comparisons with Thomson data are presented.
高時間分解能（⩾10 µs）および高空間分解能（⩾4 mm）の電子密度分布を、DIII-Dトカマクにおけるプロファイル反射測定データから、ショット間で自動的に取得できるようになった。この高速自動解析は、新たなショット間解析パッケージによって可能となり、その詳細を本論文で述べる。約0〜3×10¹⁹ m⁻³をカバーするXモードデータの解析は、5〜6秒間にわたり5 msごとに1 ms継続のデータバーストとして取得された全約1000プロファイルについて、4〜5分で完了し、ショット間でのプロファイルの閲覧と利用が可能となった。また、上記の時間・空間分解能におけるシステムの密度カバレッジが、新規の同時二偏波（OモードおよびXモード）測定技術を用いて、最近(0〜6.4)×10¹⁹ m⁻³まで拡張された詳細についても述べる。完全なOモードおよびXモードデータセット（各ショットあたり1.5 GB、25 µs時間分解能で約100,000プロファイル）の自動解析（ショット間ではない）は、実験後に利用可能である。改良されたシステムの能力は、エッジ局在モード（ELM）ダイナミクス、L-H遷移およびペデスタル物理、不純物堆積、内部輸送障壁（ITB）研究など、さまざまな分野における新たな結果を用いて実証され、トムソンデータとの直接比較も提示する。