Two dimensional reduced MHD simulations of neoclassical tearing mode growth and suppression by ECCD are performed. The perturbation of the bootstrap current density and the EC drive current density perturbation are assumed to be functions of the perturbed flux surfaces. In the case of ECCD, this implies that the applied power is flux surface averaged to obtain the EC driven current density distribution. The results are consistent with predictions from the generalized Rutherford equation using common expressions for and . These expressions are commonly perceived to describe only the effect on the tearing mode growth of the helical component of the respective current perturbation acting through the modification of Ohm's law. Our results show that they describe in addition the effect of the poloidally averaged current density perturbation which acts through modification of the tearing mode stability index. Except for modulated ECCD, the largest contribution to the mode growth comes from this poloidally averaged current density perturbation.
ECCDによる新古典ティアリングモードの成長と抑制の2次元簡約MHDシミュレーションを実施した。ブートストラップ電流密度の摂動とEC駆動電流密度摂動は、摂動磁束面の関数であると仮定される。ECCDの場合、これは、印加パワーがEC駆動電流密度分布を得るために磁束面平均されることを意味する。結果は、 と に対する一般的な表現を用いた一般化ラザフォード方程式による予測と一致する。これらの表現は、オームの法則の修正を通じて作用するそれぞれの電流摂動のヘリカル成分がティアリングモードの成長に及ぼす効果のみを記述すると一般に認識されている。我々の結果は、それらがさらに、ティアリングモード安定性指標の修正を通じて作用するポロイダル平均された電流密度摂動の効果を記述することを示す。変調ECCDを除いて、モード成長への最大の寄与は、このポロイダル平均された電流密度摂動から生じる。