Multiple resonances of the edge-localized mode (ELM) frequency caused by the application of low n (=1 or 2) magnetic perturbations for ELM control have been observed on JET. With a low n field applied, a strong increase in ELM frequency, fELM, by a factor of ∼4.5 was found in many separated narrow windows of q95 (resonant q95), while the fELM increased only by a factor of ∼2 for non-resonant q95 values. The fractions of increase in fELM with different resonant q95 values are not the same. An analysis of ideal external peeling modes shows that both the dominant unstable peeling mode number and fELM depend on the amplitude of the normalized edge current density as well as the edge safety factor, qa.
ELM（周辺局在モード）周波数の多重共鳴が、ELM制御のための低n（=1または2）磁気摂動の印加によってJETで観測された。低n磁場を印加すると、ELM周波数f_ELMの約4.5倍の強い増加が、q95の多くの分離した狭い窓（共鳴q95）で見られた一方、非共鳴q95値ではf_ELMの増加は約2倍のみであった。異なる共鳴q95値におけるf_ELMの増加割合は同じではない。理想外部ペーリングモードの解析により、支配的な不安定ペーリングモード数とf_ELMの両方が、規格化された周辺電流密度の振幅と周辺安全係数qaの両方に依存することが示される。