Current profile reconstructions are obtained for high current ( kA) post-disruption runaway electron (RE) plateau plasmas in DIII-D. Two novel methods of measuring the RE current profile in high-current RE plateaus are introduced and compared: localization of the q = 2 rational surface using visible synchrotron emission (SE) imaging and the measurement of the polarization angle of line-integrated Ar-II line emission. The two methods are found to be consistent with each other within the data uncertainties. Different simulations of the RE current profile are compared with the measurements: the toroidal fluid RE model is found to best fit the data, within the measurement uncertainties. In addition to introducing two novel methods to measure the RE current profile and validating present simulation capabilities, this work demonstrates that instabilities can grow at q = 2 and q = 1 surfaces without necessarily causing a RE final loss instability. Numerical simulations are also presented to elucidate the role of these instabilities on synchrotron emission.
DIII-Dにおける高電流（ kA）ディスラプション後逃走電子（RE）プラトープラズマについて、電流プロファイル再構成が得られた。RE電流分布を高電流REプラトーにおいて測定するための2つの新しい方法が紹介され、比較される: q = 2有理面の可視シンクロトロン放射（SE）イメージングによる局在化と、線積分されたAr-II線放射の偏光角の測定である。これら2つの方法は、データの不確かさの範囲内で互いに整合することが見出された。RE電流分布のさまざまなシミュレーションが測定値と比較される: トロイダル流体REモデルが、測定の不確かさの範囲内でデータに最もよく適合することが見出された。RE電流分布を測定するための2つの新しい方法の導入と現在のシミュレーション能力の検証に加えて、この研究は、q = 2およびq = 1面で不安定性が、必ずしもREの最終損失不安定性を引き起こすことなく成長し得ることを実証する。これらの不安定性がシンクロトロン放射に及ぼす役割を解明するための数値シミュレーションも提示される。