Charge exchange recombination spectroscopy, utilizing a fast lithium beam as the recombination source, has been successfully applied to measuring edge ion temperature profiles of fully stripped carbon and helium ions in Ohmic, L-mode and H-mode plasmas with a radial resolution of about 6 mm. The temperatures of the carbon and helium ions agree within their respective experimental error bars in discharges where both could be measured. Depending on the plasma scenario, impurity content, beam penetration, etc, either helium or carbon can be the better choice for accurate edge measurements. The impact of edge localized modes (ELMs) on this diagnostic method has been noted. Temperature profiles in between ELMs can be determined as long as the ELM frequency is less than half the frame rate of the detector, i.e. less than about 60 Hz. In a first application, accurate measurements in L-mode plasmas with dominant electron heating and low density show much higher ion temperatures than electron temperatures across the separatrix.
電荷交換再結合分光法を、高速リチウムビームを再結合源として用いることにより、完全剥離した炭素イオンおよびヘリウムイオンの周辺イオン温度分布の測定に適用し、オーミックプラズマ、Lモードプラズマ、Hモードプラズマにおいて、約6 mmの径方向分解能で測定に成功した。炭素イオンとヘリウムイオンの温度は、両者を測定できた放電において、それぞれの実験誤差範囲内で一致した。プラズマのシナリオ、不純物含有量、ビームの侵入深さなどに応じて、周辺部の高精度な測定にはヘリウムまたは炭素のいずれかがより適した選択肢となる。周辺局在モード（ELM）が本診断法に及ぼす影響が確認された。ELM間の温度分布は、ELM周波数が検出器のフレームレートの半分未満、すなわち約60 Hz未満であれば測定可能である。最初の適用例では、低密度かつ電子加熱が支配的なLモードプラズマにおいて、セパラトリクスを横切る領域でイオン温度が電子温度よりも有意に高いことが示された。