New features of the space-time evolution of the internal transport barrier (ITB) were highlighted during recent JT-60U reverse shear (RS) experiments. An ITB evolution in RS plasmas is often a combination of the fast time-scale processes and the gradual ones. Fast time-scale processes are the common intrinsic features of JT-60U RS plasmas and are seen as the simultaneous (within a few milliseconds) rise and decay of electron temperature (Te) on two zones separated by a region without variation of Te. The region without variation of Te is located near the position of the minimum safety factor profile (qmin) for many fast processes. The present robust result is that the region of fast-time-scale improvements of electron heat diffusivity is wide in space (around 0.3 of the minor radius) and well extended to the zone of Te decay.
新たな内部輸送障壁（ITB）の時空間発展の特徴が、最近のJT-60U反転シア（RS）実験において明らかにされた。RSプラズマにおけるITBの時間発展は、しばしば高速な時間スケールの過程と緩やかな過程の組み合わせである。高速な時間スケールの過程は、JT-60U RSプラズマに共通する固有の特徴であり、電子温度（Te）の変化が見られない領域によって隔てられた2つの領域における、ほぼ同時（数ミリ秒以内）のTeの上昇と減衰として観測される。Teの変化が見られない領域は、多くの高速過程において安全係数プロファイルの最小値（qmin）の位置の近傍に存在する。今回の確固たる結果として、電子熱拡散係数の改善が高速な時間スケールで生じる領域は、空間的に広く（小半径の約0.3にわたり）、Teの減衰領域まで十分に及んでいることが示された。