Simulations of the plasma current density evolution in electron internal transport barrier discharges on the Tokamak à Configuration Variable (TCV) have been performed, in order to determine the relationship between the safety-factor profile and the electron transport improvement. The results show that the formation of the transport barrier is correlated with the shear reversal in all cases studied, regardless of the different heating and current drive schemes. No indications were found of discrete effects related to low-order rational q surfaces. On the contrary, the increase in confinement along with the negative shear is gradual, but constant, indicating that the transition is smooth, although it can be very fast.
トカマク・ア・コンフィギュラシオン・バリアブル（TCV）における電子内部輸送障壁放電のプラズマ電流密度発展のシミュレーションを実施し、安全係数分布と電子輸送改善の関係を明らかにした。結果は、異なる加熱・電流駆動方式にかかわらず、輸送障壁の形成がすべての研究事例において磁気シアの反転と相関することを示している。低次の有理安全係数面に関連する離散的効果の兆候は見られなかった。逆に、閉じ込めの向上は負のシアに伴って漸進的ではあるが継続的に生じており、遷移は非常に速くなり得るものの、滑らかであることを示している。