The efficiency of contamination of the core plasma arising from different impurity generation mechanisms at the edge has been examined using the two-dimensional impurity transport code LIM. The specific example of the JET belt shape limiters, made of carbon or beryllium, has been analysed. If self-sputtering is neglected, then primary generation mechanisms which produce slow neutrals such as sublimation including carbon Radiation Enhanced Sublimation (RES), are found to be relatively benign compared with D+ physical sputtering when compared on the basis of equal influxes. For the same influx of neutral impurities, the core contamination level can be smaller by up to an order of magnitude. When self-sputtering is included in the analysis, the differences in the overall efficiency of core contamination associated with the different primary generation mechanisms are much reduced. It is thus found that with regard to the assessment of the permissible range of operating edge plasma conditions, specifically the edge temperature, the critical process to take into consideration is self-sputtering.
周辺部における異なる不純物生成機構に起因するコアプラズマの汚染効率を、二次元不純物輸送コードLIMを用いて調べた。具体例として、JETのベルト型リミターを炭素またはベリリウムで構成した場合を解析した。自己スパッタリングを無視した場合、低速中性粒子を生成する一次機構、例えば炭素の放射線昇華（RES）を含む昇華は、等しい入射フラックスで比較するとD+物理スパッタリングに比べて比較的穏やかであることが分かった。同じ中性不純物入射に対して、コア汚染レベルは最大で一桁小さくなり得る。自己スパッタリングを解析に含めると、異なる一次生成機構に伴うコア汚染の全体的な効率の差は大幅に縮小する。したがって、周辺プラズマ条件、特に周辺温度の許容範囲を評価する際には、自己スパッタリングが考慮すべき重要な過程であることが分かった。