In the first operational phase of the stellarator Wendelstein 7-X (W7-X), the x-ray imaging crystal spectrometer (XICS) system has been commissioned for measuring radial profiles of ion and electron temperature, Ti and Te, plasma rotation velocities, vP, and selected impurity densities, nZ. This paper shows the first measurements of the spectrometer and gives an initial calculation of impurity transport parameters derived from an Ar impurity transport study. Using Bayesian analysis, the temporal evolution of Ar impurity density profiles after an Ar gas puff could be observed with a time resolution of up to 5 ms, yielding a maximum value for the diffusion coefficient of D = 1.5 m2 s−1 at ρ ~ 0.5 and small pinch velocities in the inner plasma region.
Wendelstein 7-X (W7-X)ステラレータの最初の運転フェーズにおいて、X線イメージング結晶分光器(XICS)システムは、イオン温度および電子温度TiおよびTe、プラズマ回転速度vP、ならびに選択された不純物密度nZの動径分布を測定するために立ち上げられた。本論文では、この分光器の最初の測定結果を示し、Ar不純物輸送研究から導出された不純物輸送パラメータの初期計算を与える。ベイズ解析を用いることにより、Arガスパフ後のAr不純物密度分布の時間発展を最大5 msの時間分解能で観測することができ、ρ〜0.5における拡散係数の最大値D = 1.5 m² s⁻¹と、プラズマ内部領域における小さなピンチ速度が得られた。