Radiofrequency (RF) heating of currentless plasmas is performed at the fundamental electron cyclotron frequency. The absorbed power profile is determined from the decay of the electron internal energy profile immediately after the RF pulse is turned off. Measurements of the absorbed power profile at various positions of the cyclotron resonance layer are compared with single-pass absorption profiles predicted by a ray tracing code. The profiles of electron temperature, density and ion temperature are studied as a function of the absorbed power, its radial profile and the electron line averaged density. Finally, a scaling of the energy confinement time obtained by regression analysis is compared with a scaling for neutral beam heated plasmas.
無電流プラズマの高周波（RF）加熱を、基本電子サイクロトロン周波数で行う。吸収電力分布は、RFパルスがオフにされた直後の電子内部エネルギープロファイルの減衰から決定される。サイクロトロン共鳴層の様々な位置における吸収電力分布の測定値を、光線追跡コードによって予測される単一通過吸収分布と比較する。電子温度、密度、イオン温度のプロファイルを、吸収電力、その半径方向分布、および電子線平均密度の関数として調べる。最後に、回帰分析によって得られたエネルギー閉じ込め時間のスケーリングを、中性粒子ビーム加熱プラズマに対するスケーリングと比較する。