A detailed knowledge of the interplay between MHD instabilities and energetic particles has been gained from direct measurements of fast-ion losses (FILs). Time-resolved energy and pitch angle measurements of FIL caused by neoclassical tearing modes (NTMs) and toroidicity-induced Alfven eigenmodes (TAEs) have been obtained using a scintillator based FIL detector. The study of FIL due to TAEs has revealed the existence of a new core-localized MHD fluctuation, the Sierpes mode. The Sierpes mode is a non-pure Alfvenic fluctuation which appears in the acoustic branch, dominating the transport of fast-ions in ICRF heated discharges. The internal structure of both TAEs and Sierpes mode has been reconstructed by means of highly resolved multichord soft x-ray measurements. A spatial overlapping of their eigenfunctions leads to a FIL coupling, showing the strong influence that a core-localized fast-ion driven MHD instability may have on the fast-ion transport. We have identified the FIL mechanisms due to NTMs as well as due to TAEs. Drift islands formed by fast-ions in particle phase space are responsible for the loss of NBI fast-ions due to NTMs. In ICRF heated plasmas, a resonance condition fulfilled by the characteristic trapped fast-ion orbit frequencies leads to a phase matching between fast-ion orbit and NTM or TAE magnetic fluctuation. The banana tips of a resonant trapped fast-ion bounce radially due to an E × B drift in the TAE case. The NTM radial bounce of the fast-ion banana tips is caused by the radial component of the perturbed magnetic field lines.
MHD不安定性と高エネルギー粒子の間の相互作用に関する詳細な知識は、高速イオン損失（FIL）の直接測定から得られている。シンチレータベースのFIL検出器を用いて、新古典テアリングモード（NTM）およびトロイダルアルヴェン固有モード（TAE）によって引き起こされるFILの時間分解エネルギーおよびピッチ角測定が取得されている。TAEによるFILの研究により、新しいコア局在MHD揺動であるSierpesモードの存在が明らかにされた。Sierpesモードは、音響ブランチに現れる非純アルヴェン揺動であり、ICRF加熱プラズマにおける高速イオンの輸送を支配する。TAEとSierpesモードの両方の内部構造は、高分解能マルチコード軟X線測定によって再構成されている。それらの固有関数の空間的重なりは、FILの結合をもたらし、コア局在の高速イオン駆動MHD不安定性が高速イオン輸送に及ぼす強い影響を示している。NTMおよびTAEに起因するFILのメカニズムが特定されている。位相空間における高速イオンによって形成されるドリフト島が、NTMによるNBI高速イオンの損失の原因である。ICRF加熱プラズマでは、特徴的な捕捉高速イオン軌道周波数によって満たされる共鳴条件が、高速イオン軌道とNTMまたはTAEの磁気揺動との間の位相整合をもたらす。TAEの場合、共鳴捕捉高速イオンのバナナ軌道は、E×Bドリフトにより径方向に移動する。NTMの場合、高速イオンのバナナ軌道の径方向バウンスは、摂動磁力線の径方向成分によって引き起こされる。