NSTX has observed transition to a desirable small-ELM regime (called type-V), in which the stored energy loss per ELM is less than 1%, by stabilizing type-I ELMs. This regime is accessed in a lower single null configuration with increased edge collisionality (ν* > 1). Coincident with the transition to this regime, a low-frequency (<10 kHz) n = 1 mode is observed at the plasma edge in magnetic and soft x-ray diagnostics, with harmonics up to n = 6 observed in some cases. Low-level density fluctuations associated with this mode are observed using microwave reflectometry, but there is no evidence that the mode is providing sufficient transport to stabilize the type-I ELMs. This mode rotates in the electron diamagnetic direction and has shown a phase inversion on USXR channels, indicating that it is resistive in nature. Discharges with type-V and type-I ELMs are both calculated to be on the peeling unstable side of the peeling–ballooning stability curve, with the type-V case at higher normalized pressure gradient and closer to the ballooning stability boundary.
NSTXは、type-I ELMを安定化することにより、ELMあたりの蓄積エネルギー損失が1%未満である望ましい小振幅ELM領域（type-Vと呼ばれる）への遷移を観測した。この領域は、周辺衝突度（ν* > 1）が増加した下部単一ヌル配位において到達される。この領域への遷移と同時に、低周波数（<10 kHz）のn = 1モードがプラズマ周辺部において磁気および軟X線診断で観測され、場合によってはn = 6までの高調波が観測される。このモードに伴う低レベルの密度揺動がマイクロ波反射計を用いて観測されるが、このモードがtype-I ELMを安定化するのに十分な輸送を提供しているという証拠はない。このモードは電子反磁性方向に回転し、USXRチャネルにおいて位相反転を示しており、抵抗性の性質を持つことを示している。type-Vおよびtype-I ELMを有する放電は、いずれもピーリング–バルーニング安定性曲線のピーリング不安定側にあると計算され、type-Vの場合がより高い規格化圧力勾配にあり、バルーニング安定性境界により近い。