Edge localized modes (ELMs) with high frequency and low power loss (type-II ELMs) occur in high triangularity, near double null configurations in ASDEX Upgrade with full tungsten plasma facing components. The transition from type-I to type-II ELMs is shown to occur above a collisionality threshold. For the first time the characteristic MHD fluctuations around 40 kHz have been localized. The fluctuations are observed in a wide region extending from the pedestal inward to normalized poloidal radius ρpol = 0.7. Their amplitudes on the low-field side of the plasma exhibit maxima above and below the mid-plane. The fluctuations move in the electron drift direction and lead to a reduced edge electron temperature gradient. The reduction in the edge pressure gradient is connected with these MHD fluctuations, which affect the electron temperature but not the electron density profiles. A comparison with nitrogen-mitigated type-I ELMs in the same plasma shape shows that core profiles are also affected. The electron temperature profile is self-similar for type-I and nitrogen-mitigated type-I ELMs but is not self-similar in the case of type-II ELMs.
高周波かつ低損失のエッジ局在モード（ELM）（タイプII ELM）は、ASDEX Upgradeにおいて、高三角形度・近ダブルヌル配位で、全タングステンプラズマ対向機器を用いた場合に発生する。タイプIからタイプIIへのELM遷移は、衝突頻度の閾値以上で発生することが示されている。特徴的なMHD揺動（約40 kHz）は、初めて空間的に特定された。この揺動は、ペデスタルから規格化ポロイダル半径ρpol = 0.7の内部領域にわたる広い範囲で観測される。その振幅は、低磁場側において、ミッドプレーンより上方と下方で最大値を示す。この揺動は電子反磁性ドリフト方向に伝播し、電子温度勾配の低減を引き起こす。エッジ圧力勾配の低減は、これらのMHD揺動と関連しており、電子密度分布ではなく電子温度分布に影響を及ぼす。同一プラズマ形状における窒素注入によるタイプI ELMとの比較から、コア領域の分布も影響を受けることが示される。電子温度分布は、タイプI ELMおよび窒素注入によるタイプI ELMでは自己相似性を示すが、タイプII ELMの場合には自己相似性が成立しない。