The dynamics of electron-internal transport barrier (e-ITB) formation is studied in the hybrid plasma of neutral beam injection and lower hybrid wave heating on EAST. The e-ITB is observed to be repetitively formed at the H–L transition, where the relaxation process of core radiation triggers an increase in neutron yield and core electron temperature. A reversed q-profile is beneficial for generating the barrier, identified by the appearance of reversed shear Alfvén eigenmodes (RSAEs). The dimensionless parameter of the normalized Larmor radius is estimated to visualize the dynamic behavior of the e-ITB. It is found that the e-ITB forms once the electron exceeds 0.014, and the RSAEs are accompanied by the e-ITB formation. The barrier foot moves inwards until the L–H transition occurs, where the H-mode pedestal or type-I edge localized mode (ELM) strongly influences the e-ITB intensity. The results of thermal transport modeling show a significant reduction in the core thermal transport coefficient in the electron channel while maintaining a nearly unchanged ion transport level as the e-ITB evolves.
電子内部輸送障壁（e-ITB）の形成が、EASTにおける中性粒子ビーム加熱と低域混成波加熱のハイブリッドプラズマ中で研究されている。e-ITBはHモードからLモードへの遷移時に繰り返し形成されることが観測され、その際、コア部の放射損失の緩和過程が中性子生成率とコア電子温度の上昇を引き起こす。反転したqプロファイルは、反転シア・アルヴェン固有モード（RSAE）の出現によって特徴づけられる障壁の生成に有利である。規格化ラーマー半径 の推定により、e-ITBの動的挙動が可視化された。電子の が0.014を超えるとe-ITBが形成され、RSAEはe-ITB形成に伴って出現することが見出された。障壁のフットはL-H遷移が起こるまで内側へ移動し、HモードペデスタルまたはI型エッジ局在モード（ELM）がe-ITBの強度に強く影響を与える。熱輸送モデリングの結果は、e-ITBの進化に伴い、電子チャネルにおけるコア熱輸送係数が有意に減少する一方、イオン輸送レベルはほぼ不変に保たれることを示している。