The effect of normalized plasma pressure as characterized by normalized pressure parameter (βN) on the suppression of edge localized modes (ELMs) using resonant magnetic perturbations (RMPs) is studied in low-collisionality (ν* ⩽ 0.2) H-mode plasmas with low-triangularity (⟨δ⟩ = 0.25) and ITER similar shapes (⟨δ⟩ = 0.51). Experimental results have suggested that ELM suppression by RMPs requires a minimum threshold in plasma pressure as characterized by βN. The variations in the vacuum field topology with βN due to safety factor profile and island overlap changes caused by variation of the Shafranov shift and pedestal bootstrap current are examined numerically with the field line integration code TRIP3D. The results show very small differences in the vacuum field structure in terms of the Chirikov (magnetic island overlap) parameter, Poincaré sections and field line loss fractions. These differences do not appear to explain the observed threshold in βN for ELM suppression. Linear peeling–ballooning stability analysis with the ELITE code suggests that the ELMs which persist during the RMPs when βN is below the observed threshold are not type I ELMs, because the pedestal conditions are deep within the stable regime for peeling–ballooning modes. These ELMs have similarities to type III ELMs or low density ELMs.
規格化プラズマ圧力の効果は、規格化圧力パラメータ(βN)によって特徴づけられ、共鳴磁場摂動(RMP)を用いたエッジ局在モード(ELM)の抑制に対して、低衝突性(ν* ⩽ 0.2)のHモードプラズマにおいて、低三角形度(⟨δ⟩ = 0.25)およびITER類似形状(⟨δ⟩ = 0.51)で研究される。実験結果は、RMPによるELM抑制には、βNによって特徴づけられるプラズマ圧力の最小閾値が必要であることを示唆している。βNに伴う真空磁場トポロジーの変化は、安全係数プロファイルと島重なりが、Shafranovシフトとペデスタル・ブートストラップ電流の変化によって引き起こされることによるものであり、磁力線積分コードTRIP3Dを用いて数値的に調べられる。結果は、Chirikov(磁気島重なり)パラメータ、ポアンカレ断面、磁力線損失率の観点から、真空磁場構造の非常に小さな差異を示す。これらの差異は、ELM抑制に対するβNの観測された閾値を説明するようには見えない。ELITEコードを用いた線形ピーリング・バルーニング安定性解析は、βNが観測された閾値未満であるときにRMP中に持続するELMは、タイプI ELMではないことを示唆する。なぜなら、ペデスタル条件はピーリング・バルーニングモードに対して安定領域の深くにあるからである。これらのELMは、タイプIII ELMまたは低密度ELMに類似性を持つ。