Improvement of the spatial resolution of the TCV Thomson scattering system has permitted measurements of the pedestal height and gradient of electron density and temperature profiles near the plasma boundary during ELMy H-mode. Measured profiles were fitted by a modified TANH function and characterized by pedestal height, width and gradient scale length. Taking advantage of an extended quasi-stationary phase with reproducible edge localized modes (ELMs), random sampling was used to reconstruct the time evolution during a typical ELM cycle. The measurements clearly reveal the influence of the ELM event on the edge profiles and have permitted quantification of the associated energy and particle losses. The experimental data, collected from a series of reproducible shots have provided the basis for an MHD stability analysis using the KINX code. The results confirm the type-III identification of the ELMs observed in ohmically heated H-mode plasmas in TCV.
TCVトカマクにおけるトムソン散乱システムの空間分解能の向上により、ELMy Hモード中のプラズマ境界近傍における電子密度・電子温度分布のペデスタル高さと勾配の測定が可能となった。測定された分布は修正TANH関数によりフィッティングされ、ペデスタル高さ、勾配スケール長、および勾配幅によって特徴づけられた。再現性のある周辺局在モード（ELM）を伴う長時間の準定常位相を利用し、ランダムサンプリング法により典型的なELM周期中の時間発展を再構成した。測定結果は、ELM事象が周辺分布に及ぼす影響を明確に示し、それに伴うエネルギーおよび粒子損失の定量化を可能にした。再現性のある一連の放電から収集された実験データは、KINXコードを用いたMHD安定性解析の基礎を提供した。その結果は、TCVにおけるオーミック加熱Hモードプラズマで観測されたELMがタイプIIIであることを確認した。