Abrupt in time (correlated within a few ms with L-H and H-L transitions) and wide in space (from the edge up to ~0.3 of minor radius in the extreme case) variations of electron heat diffusivity δχe were found in reversed shear (RS) JT-60U tokamak plasmas with internal transport barrier (ITB) at various profiles of safety factor q. The δχe profile follows the position of q minimum (qmin ) and penetrates into the RS region deeper for the weak ITB than for the strong one, suggesting the presence of `global' edge-core connection throughout qmin in a ms timescale at L-H and H-L confinement bifurcations. The δχe value at the position of qmin is small for the strong ITB (~0.05 m2 s-1) and increases by an order of magnitude for the weak ITB. The ITB event is another non-local transport bifurcation (improvement or degradation) inside and around ITB. The case of strong ITB formation in H-mode via a series of ITB events in ELM-induced L-mode is described. ITB event degradation in the positive shear zone causes L-H transition.
時間的に急峻（L-H遷移およびH-L遷移と数msの相関を持つ）かつ空間的に広範（小半径の約0.3まで及ぶ極端な場合を含む）な電子熱拡散係数δχeの変動が、種々の安全係数q分布を有する内部輸送障壁（ITB）を伴うJT-60Uトカマクの反転磁気シアンプラズマにおいて観測された。δχeの分布は安全係数の最小値（qmin）の位置に追従し、弱いITBの場合には強いITBの場合よりも反転磁気シアン領域の深部まで侵入する。このことは、L-H遷移およびH-L遷移の閉じ込め転移時において、数msの時間スケールで「全体域的」な端部-内部結合がqmin位置を介して存在することを示唆している。qmin位置におけるδχeの値は、強いITBの場合には小さく（約0.05 m²/s）、弱いITBの場合には一桁増大する。ITBイベントは、ITB内部およびその周辺におけるもう一つの非局所的輸送転移（改善または劣化）である。ELM誘起Lモードにおける一連のITBイベントを介したHモードでの強いITB形成の事例について述べる。正磁気シアン領域におけるITBイベントの劣化がL-H遷移を引き起こす。