Error fields are observed to form locked modes at abnormally high densities in ohmic ELM-free H modes in COMPASS-D. Recent experiments are described where the penetration is correlated with measured toroidal rotation changes intrinsic to the H mode in COMPASS-D. Once penetrated, the error field triggers ELMs (often followed by a return to L mode). This often leads to disruptions, but can be a cyclic process. The experiments on COMPASS-D show that an error field can be used to produce ELMs in a controlled way.
誤差磁場は、COMPASS-DにおけるオーミックELMフリーHモードにおいて、異常に高い密度でロックモードを形成することが観測されている。最近の実験では、その浸入がCOMPASS-DのHモードに固有の測定されたトロイダル回転の変化と相関することが示されている。ひとたび浸入すると、誤差磁場はELMを引き起こす（しばしばLモードへの復帰が続く）。これはしばしばディスラプションにつながるが、周期的なプロセスであり得る。COMPASS-Dでの実験は、誤差磁場がELMを制御された方法で生成するために使用され得ることを示している。