Measurements of profiles of soft X ray emissivity with 1.5 mm radial resolution are combinedwith high resolution electron densityand temperature measurements in the edge region of the Alcator C-Mod tokamakto facilitate transport analysis of medium-Z impurities during H modes. Results from detailed modelling of the radiation and transport of fluorineare compared with experimental measurements, yielding information about thetransport coefficients in the H mode transport barrier region. Evidence is foundfor a strong inward impurity pinch just insidethe separatrix. The region of strong inward pinch agrees very well with theregion of strong electron density gradient, suggesting that the inward pinchcould be driven by the ion density gradient, as predicted by neoclassicaltheory. Simulations using the neoclassical impurity convection profile agreevery well with experiments. Transport modelling shows that the X ray pedestal width islargely determined by the diffusion coefficient in the transport barrier.This allows diagnosis of changes in the edge diffusion coefficient on thebasis of observations of X ray pedestal width changes. Significantdifferences in the edge diffusion coefficient are seen between different types of H mode. Several scalings for the edge diffusion coefficient in the enhancedDα H mode are also identified. This may help elucidate the physical processes responsible for this attractive confinement mode.
軟X線 emissivity のプロファイルの1.5 mm の動径分解能での測定を、Alcator C-Mod トカマクのエッジ領域における高分解能の電子密度および電子温度測定と組み合わせることで、H モード中の medium-Z 不純物の輸送解析を容易にする。フッ素の放射および輸送の詳細なモデリングの結果を実験測定と比較し、H モード輸送障壁領域における輸送係数に関する情報を得る。セパラトリクスのすぐ内側で強い内向きの不純物ピンチの証拠が見出された。強い内向きピンチの領域は、強い電子密度勾配の領域と非常によく一致しており、この内向きピンチが新古典理論で予測されるようにイオン密度勾配によって駆動される可能性を示唆している。新古典的不純物対流プロファイルを用いたシミュレーションは実験と非常によく一致する。輸送モデリングは、X 線ペデスタル幅が輸送障壁内の拡散係数によって主に決定されることを示している。これにより、X 線ペデスタル幅の変化の観測に基づいてエッジ拡散係数の変化を診断することが可能となる。異なるタイプの H モード間でエッジ拡散係数に有意な差異が見られる。また、enhanced Dα H モードにおけるエッジ拡散係数のいくつかのスケーリング則が特定された。これは、この魅力的な閉じ込めモードの原因となる物理過程の解明に寄与する可能性がある。