A new framework for the solution of modified Rutherford equation including fast ions is successfully applied to interpret the tearing mode stability of two discharges NSTX #134020 and DIII-D #135861. The simulated island width growth rates are in better agreement with the measured island growth rate when the fast ions are included. While constants are multiplied to the polarization current contribution terms for NSTX #134020, no constants are necessary to match the simulated and measured island width growth rates for DIII-D #135861. The estimated island frequencies appear to provide an explanation of the different constants used in the two discharges. The gradient scale lengths suggest that the fast ion contribution can become significant in plasmas with flat thermal ion density profile and steep fast ion density profile.
修正ラザフォード方程式の解法に対する高速イオンを含む新しい枠組みが、NSTX #134020およびDIII-D #135861の2つの放電におけるティアリングモード安定性を解釈するために首尾よく適用された。シミュレーションされた島幅成長率は、高速イオンが含まれる場合に測定された島成長率とより良く一致する。NSTX #134020では分極電流寄与項に定数が乗じられる一方、DIII-D #135861ではシミュレーションと測定された島幅成長率を一致させるために定数は不要である。推定された島周波数は、2つの放電で使用された異なる定数の説明を提供するように思われる。勾配スケール長は、平坦な熱イオン密度分布と急峻な高速イオン密度分布を有するプラズマにおいて、高速イオン寄与が有意になり得ることを示唆している。