Experimental plasma-edge gradients in JET during the edge-localized-mode (ELM) free H-mode are examined for evidence of the presence and location of the transport barrier region inside the magnetic separatrix. High spatial resolution data in electron density is available in- and outside the separatrix from an Li-beam diagnostic, and in electron temperature inside the separatrix from an ECE diagnostic, while outside the separatrix, a reciprocating probe provides electron density and temperature data in the scrape-off layer. Ion temperatures and densities are measured using an edge charge-exchange diagnostic. A comparison of observed widths and gradients of this edge region with each other and with theoretical expectations is made. Measurements show that ions and electrons form different barrier regions. Furthermore, the electron temperature barrier width (3-4 cm) is about twice that of electron density, in conflict with existing scaling laws. Suitable parametrization of the edge data enables an electron pressure gradient to be deduced for the first time at JET. It rises during the ELM-free phase to reach only about half the marginal pressure gradient expected from ballooning stability before the first ELM. Subsequent type I ELMs occur on a pressure gradient contour roughly consistent with both a constant barrier width model and a ballooning mode envelope model.
JETにおけるELMフリーHモード中の実験的プラズマ端部勾配を、磁気セパラトリックス内側の輸送障壁領域の存在と位置の証拠について調べた。Liビーム診断による電子密度の高空間分解能データはセパラトリックスの内外で得られ、ECE診断による電子温度はセパラトリックスの内側で得られた一方、セパラトリックスの外側では、往復プローブがスクレイプオフ層における電子密度と温度のデータを提供する。イオン温度と密度は、電荷交換診断を用いて測定される。この端部領域の観測された幅と勾配を、互いに、また理論的予測と比較した。測定により、イオンと電子は異なる障壁領域を形成することが示された。さらに、電子温度障壁の幅（3〜4 cm）は電子密度障壁の約2倍であり、既存のスケーリング則と矛盾する。端部データの適切なパラメータ化により、JETにおいて初めて電子圧力勾配を推定することが可能となった。これはELMフリー位相中に上昇し、最初のELM前のバルーニング安定性から予測される限界圧力勾配の約半分にしか達しない。その後のタイプI ELMは、一定障壁幅モデルとバルーニングモード包絡線モデルの両方とおおよそ一致する圧力勾配輪郭上で発生する。