The microwave reflectometry system on ASDEX Upgrade measures density profiles (in broadband swept operation) and plasma fluctuations (fixed-frequency operation) both at the high-field side (HFS) and low-field side (LFS). Densities up to can be probed. We analyse the evolution of turbulence at the L-H transition and during the ELMy phase of H-mode discharges. The detailed density profile evolution during type I ELMs is resolved and profile oscillations associated with ELM precursors are studied.
ASDEX Upgradeにおけるマイクロ波反射測定システムは、高磁場側（HFS）と低磁場側（LFS）の両方において、密度分布（広帯域動作時）およびプラズマ揺動（固定周波数動作時）を測定する。密度は最大 まで測定可能である。我々は、L-H遷移時およびHモード放電のELMy位相における乱流の時間発展を解析する。また、タイプI ELM中の詳細な密度分布の時間発展を分解して測定し、ELM前駆体に伴う密度分布の振動について研究する。